閱讀 | 訂閱
閱讀 | 訂閱
半導體/PCB

Multitest交付適于高并行度麥克風測試的首款InPhone系統(tǒng)

激光制造網通訊員 來源:廣東星之球2011-09-21 我要評論(0 )   

2011年9月----面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測試分包商,設計和制造最終測試分選機、測試座和負載板的領先廠商Multitest公司,已向一家知名IDM的歐洲基地...

        2011年9月----面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測試分包商,設計和制造最終測試分選機、測試座和負載板的領先廠商Multitest公司,已向一家知名IDM的歐洲基地交付首款InPhone系統(tǒng)。配合Multitest InStrip®分選機,InPhone系統(tǒng)專用于MEMS麥克風的高并行度MEMS測試與校準。InStrip®配置適于InCarrier®測試。因此,單粒MEMS封裝可通過InStrip®分選機進行高并行性測試。
   
對于先進的移動通信應用而言,麥克風MEMS器件變得愈發(fā)重要。這些應用需要擴展線性頻率范圍,通常亦要求小型封裝,但同時要求嚴格控制成本。

Mulltitest的InPhone解決方案基于壓力腔體的激勵,該壓力腔體可確保所有并行測試器件內的同質聽覺激勵。InCarrier®概念甚至能夠支持適于小型器件的穩(wěn)定高并行度測試。因此,該裝置擁有獨特的性能和測試成本優(yōu)勢。
 

 

 

轉載請注明出處。

暫無關鍵詞
免責聲明

① 凡本網未注明其他出處的作品,版權均屬于激光制造網,未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用。獲本網授權使用作品的,應在授權范圍內使 用,并注明"來源:激光制造網”。違反上述聲明者,本網將追究其相關責任。
② 凡本網注明其他來源的作品及圖片,均轉載自其它媒體,轉載目的在于傳遞更多信息,并不代表本媒贊同其觀點和對其真實性負責,版權歸原作者所有,如有侵權請聯系我們刪除。
③ 任何單位或個人認為本網內容可能涉嫌侵犯其合法權益,請及時向本網提出書面權利通知,并提供身份證明、權屬證明、具體鏈接(URL)及詳細侵權情況證明。本網在收到上述法律文件后,將會依法盡快移除相關涉嫌侵權的內容。

網友點評
0相關評論
精彩導讀